各種検査ツールから集められたレチクル検査データの保存および可視化を行う
レチクル点検管理(RIM: Reticle Inspection Management)システムです。
特徴
- レチクルの破損または汚染に起因する製造ミスを排除
ユーザー設定の仕様に基づいて、RIMは各レチクルのクリーニングおよび検査のサイクルを管理します。
汚染されたレチクルを自動的にロックして、担当のオペレータ/技術者にリモート通知し、
検査済みのクリーンなレチクル以外が製造に用いられないようにし、歩留まりを改善します。
- 品質管理の向上
RIMはレチクルのライフサイクル全体を通じてレチクル検査データを管理・保存します。
この高度な(履歴)レポート機能は、Webインターフェイスを用いて工程上どこからでも利用できます。
高度な設定が可能なSmart Contamination Valueを用いることにより、レチクルの汚染を一目で発見できます。
既知の「DONT-CARE」(無視)障害をフィルタリングすることにより、対処が必要な新たな障害を一目で検出できます。
- 自動化への移行
RIMは、自動検査機能および再適格化のトリガー機能を提供します。
パラメータファイルのアップロードおよびダウンロードを自動化することにより、人為的エラーを排除します。
各種機能
可視化機能:
- サイズやクラスをパラメータにしたパーティクル/障害のグラフィック表示、選択、およびフィルタリング。
- 個々のレチクルのフェイスの可視化や、レチクルを組み合わせた「露光」ビューの可視化。
- ユーザー独自の要求を満たす複数のレンダラー。
- 検査結果の3D可視化(VRML、DXFなど):
メッシュ切りや、フェイス削減を含む2Dグレーマップ変換に基づいた2D/3D変換。
- デルタマップ機能:
複数の検査結果の比較やリファレンスマップの相違点の抽出、出現したパーティクル/欠陥の発見などが一目瞭然に。
- オーバレイマップ機能:
複数の検査結果(例: マスクセット全体に対する結果)を結合し、パーティクルや欠陥が露光に及ぼす影響を確認できます。
- 欠陥の分類およびユーザーによる注釈の追加(クリティカル、定常的、透明、不透明、間違いなど)。
- 欠陥/汚染が特に深刻な部分をユーザーが独自に設定可能。
- 汚染値のスマート検出機能:
最も汚れが目立つレチクルを一目で識別できます。
- 検査データの可視化およびアーカイブ化。複数のPDSマップを可視化することにより、汚染の原因を効率的に追求します。
- 定常的な欠陥および汚染の進展過程を、デルタマップを用いて追跡することが可能。
統合機能:
追跡・保存機能:
- レチクルの検査サイクルの追跡。
- レチクルのライフサイクル全体を通じて、検査および修理の履歴を保存。
- ユーザーの注釈やコメントをすべての検査に添付可能。
-
- プリンタのサポートにより、利用可能なすべての情報をアナログアーカイブとして保存することが可能。
- パーティクルのグラフィックデータ(RFF、ESFなど)のエクスポート。
- 工場のイントラネットから検査データの全アーカイブへのRSM/WEB経由のリモートアクセス。
自動化機能:
- 手動および自動による検査キューの登録。キューの登録基準は、I/Oサイクル数、手動による移動、
ロットカウント、CIMステータスの変更、構成可能なスケジュールなどに基づいて設定できます。
- 汚染のしきい値を超えた場合に自動的にアラームを発生します
(Mediation Deviceを用いれば、リモートアラームを使用できます)。
- Reticle Stockersにおける検査システムのサポート。ストッカーのアイドルタイム中に自動的に検査をトリガーします。
- パラメータファイルおよび結果のアップロードおよびダウンロード。
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